作者单位
摘要
1 北京航空航天大学 仪器科学与光电工程学院,北京 100191
2 中国船舶工业系统工程研究院,北京 100036
3 东南大学 仪器科学与工程学院,江苏 南京 210096
传统的红外成像反舰导弹的干扰策略如热焰弹和烟雾等已经不能很好地应对新型红外成像反舰导弹的威胁,针对该问题,设计一种在舰船表面不同分区施加水幕来对抗红外成像反舰导弹的策略,采用建模仿真的方式开展了水幕对红外成像导引头干扰效果的研究。建立综合考虑海天背景的舰船红外辐射仿真模型,结合典型图像识别算法,分析制定了不同的水幕施加策略,利用仿真模型研究在一定距离不同策略下红外成像导引头对目标识别的成功率;根据识别结果和算法原理对水幕施加策略进行优化,优化后的分区水幕施加策略可使导引头对目标的识别成功率下降约60%。最后通过在现实场景中搭建的降温缩比试验装置验证了水幕的降温效果。
红外电子对抗 红外成像导引头 干扰策略 水幕仿真模型 水幕降温 infrared electronic countermeasure infrared imaging seeker jamming strategy water curtain simulation model water curtain cooling 
应用光学
2021, 42(3): 404
Author Affiliations
Abstract
1 Laboratory of Micro-Nano Optoelectronic Materials and Devices, Key Laboratory of Materials for High-Power Laser, Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai 201800, China
2 Center of Materials Science and Optoelectronics Engineering, University of Chinese Academy of Sciences, Beijing 100049, China
3 KBTEM-OMO Joint Stock Company, Minsk 220033, Republic of Belarus
A Te-free binary phase change material SbBi is proposed as a new inorganic photoresist for heat-mode lithography. It shows good film-forming ability (surface roughness <1 nm), low threshold power for crystallization (2 mW), and high etching selectivity (15:1). Line-type, dot-type, and complex pattern structures with the smallest feature size of 275 nm are fabricated on SbBi thin films using a 405 nm diode laser direct writing system. In addition, the excellent grating structures with a period of 0.8 μm demonstrate that thermal interference does not affect the adjacent microstructures obviously. These results indicate that SbBi is a promising laser heat-mode resist material for micro/nanostructure fabrication.
310.6845 Thin film devices and applications 140.3380 Laser materials 
Chinese Optics Letters
2019, 17(9): 093102
作者单位
摘要
上海理工大学 医疗器械与食品学院, 上海 200093
在考察多种二值图像连通区域标记方法的基础上, 提出了一种新的基于图像填充和游程码的二值图像孔洞连通域的标记和表达方法。对二值图像进行一次扫描, 得到所有可能构成孔洞的游程码, 并将游程对应的区域基于特定标记值进行填充。通过判断每个游程与图像上一行像素点标记值的对应关系完成新连通域的建立、游程数据存储和连通区域的合并, 判断每个游程与图像下一行像素点标记值的对应关系完成孔洞的筛选。由于仅需扫描图像一次, 且对每个游程只须进行单独处理, 标记算法的效率较高、复杂度较低。结果表明, 可以快速有效地完成二值图像孔洞连通域的标记。同时, 它还给出孔洞之间的包含关系, 能够有效地实现二值图像的拓扑结构表达。
二值图像 连通域 图像孔洞 binary image connected area image holes 
光学技术
2017, 43(4): 364
Author Affiliations
Abstract
1 Key Laboratory of Materials for High Power Laser, Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai 201800, China
2 University of Chinese Academy of Sciences, Beijing 100049, China
3 Laboratory for High Density Optical Storage, Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai 201800, China
4 e-mail: lzhang@siom.ac.cn
In this work, TeO0.7 thin films were prepared by the reactive magnetron-controlling sputtering method. Complex gray-scale patterns were successfully fabricated on TeO0.7 thin films through the laser direct writing method. The structural origin of TeO0.7 thin film was investigated for gray-scale pattern formation. It is found that multiple gray-scale levels are dependent on the “virtual” bandgap energy of TeO0.7 thin films. The bandgap energy changes lead to refractive index and reflectivity difference. Thus, gray-scale tones can be formed. By accurately controlling laser energy, various “virtual” bandgaps can be generated in TeO0.7 thin films, and colorful gray-scale levels can be formed. Experimental results indicate that TeO0.7 thin film can be used as micro/nano image writing material.
Lithography Lithography Thin films Thin films optical properties optical properties 
Photonics Research
2017, 5(1): 01000022
Author Affiliations
Abstract
1 Laboratory for High Density Optical Storage of the Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai 201800, China
2 Key Laboratory of Functional Inorganic Material Chemistry (Heilongjiang University), Ministry of Education, Harbin 150080, China
3 University of Chinese Academy of Sciences, Beijing 100049, China
Metal hydrazone complex thin films are used as laser patterning materials, and the patterns with a minimum resolution of about 78 nm are successfully obtained by the laser writing setup (λ=405 nm, NA=0.9). The minimum resolution is only about 1/8 of the writing spot size. In the formation of patterns, there is only a single step for forming patterns by the laser heating-induced clear thermal gasification threshold effect without any other development processes such as wet etching. This work provides an effective method for directly achieving nanoscale-resolved pattern structures with diode-based maskless laser writing lithography at visible light wavelengths.
140.0140 Lasers and laser optics 310.0310 Thin films 
Chinese Optics Letters
2016, 14(5): 051401
作者单位
摘要
上海理工大学 医疗器械与食品学院, 上海 200093
在研究传统摄像机标定原理及方法的基础上, 提出了一种新的基于同心圆环点模板的双目摄像机标定方法。该方法仅要求摄像机摄取任一方位包含所有25个同心圆环点的所设计模板的一幅图像, 即可根据射影几何内秉的约束条件和左右图像的视差完成对双目摄像机焦距、基线距离和光心位置等参数的标定, 且不需要进行图像的畸变校正与匹配。实验表明, 该双目摄像机的标定方法具有较高的精度和效率, 可以方便、迅速地实现双目摄像机的标定。
成像光学 双目摄像机标定 同心圆环点 imaging optics binocular camera calibration concentric circle points 
光学技术
2016, 42(3): 197
作者单位
摘要
1 Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai 201800, China
2 Key Laboratory of Functional Inorganic Material Chemistry (Heilongjiang University), Ministry of Education, Harbin 150080, China
super-resolution near-field mask layer optical nonlinear localized surface plasmas 
Frontiers of Optoelectronics
2014, 7(4): 475–485
作者单位
摘要
电子工程学院,合肥230037
针对空中观测平台对地面辐射源目标定位得到多个定位点的问题,提出了基于概率密度函数的定位点融合算法。在分析最大似然估计法的基础上,提出了概率密度函数求和法和修正最大似然估计法两种融合算法,通过概率密度函数相加求和与数据窗口选择,实现对辐射源多次定位点的融合,提高了定位精度。算法解决了个别定位点误差过大以及多个辐射源同时存在且其定位点不可区分时的融合问题。仿真实验结果表明,该方法可以有效融合多辐射源定位点,提高定位的精度,并且概率密度函数求和法融合性能更为稳健。
无源定位 目标定位 概率密度函数 修正最大似然估计 融合 passive locating target locating probability density function modified ML method fusion 
电光与控制
2014, 21(9): 40
作者单位
摘要
1 郑州轻工业学院物理与电子工程学院, 河南 郑州 450002
2 中国科学院上海光学精密机械研究所强激光材料重点实验室, 上海 201800
利用Z-扫描测试技术研究了低功率下Sb80 Bi20纳米薄膜的非线性光学特性,并利用椭圆偏振光谱仪测量了薄膜光学常数及椭偏参数。实验结果表明Sb80Bi20薄膜具有较大的饱和非线性光学吸收,非线性系数约为-0.018 m/W,而非线性折射率效应却不明显。Sb80Bi20纳米薄膜的超分辨效应主要在于具有大的非线性吸收系数。理论计算表明35 nm厚薄膜可使高斯光束半径缩小大约10%。因此Sb80Bi20薄膜有望用于近场超分辨结构。
薄膜 Sb80Bi20薄膜 超分辨效应 Z扫描测量 光学非线性 
中国激光
2014, 41(7): 0707002
作者单位
摘要
中国科学院上海光学精密机械研究所, 上海 201800
在超分辨光存储技术中,掩膜层材料是决定其性能优劣的关键。In薄膜可以作为掩膜层用来实现超分辨信息点的动态读出。采用直流磁控溅射法制备不同厚度的In薄膜,用台阶仪测量薄膜厚度随时间的变化关系,用原子力显微镜观察不同厚度薄膜样品的表面形貌。在预刻有尺寸为390 nm信息点的光盘盘基上制备In薄膜,从而形成In掩膜超分辨光盘。利用光盘动态测试仪进行动态读出,最高读出载噪比(CNR)达到26 dB。为了进一步分析超分辨动态读出的物理机理,采用变温椭圆偏振光谱仪测量In薄膜在不同温度下的光学常数,得到In薄膜在不同温度下的反射率和吸收系数。分析表明In掩膜超分辨光盘的读出机理符合孔径型超分辨读出模型。
薄膜 超分辨 In掩膜 载噪比 
中国激光
2012, 39(6): 0607002

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